你现在的位置：首页>>产品中心>>A系列-薄层材料>>半导体薄层>>半导体单晶、多晶硅片>>A系列-电阻率方阻测试半导体单晶、多晶硅片
 |
|||
|
半导体硅锗片（方阻方块电阻）测试方案
自主研发生产四探针测试仪,方阻测试仪,半导体硅锗片电阻率测试仪
自主研发生产四探针测试仪,方阻测试仪,半导体硅锗片电阻率测试仪
产品类别： 半导体单晶、多晶硅片
上架时间： 2018/11/29 15:07:27
浏览次数： 19022
上架时间： 2018/11/29 15:07:27
浏览次数： 19022
产品详细
——————半导体硅锗片测试仪器方案推荐————
整套晶格半导体硅锗片方阻方块电阻测试仪器包括：探头、测试台、测试仪。
详情请拨打400-635-7098或在线咨询客服。
| 填写咨询内容: | ||
