产品中心
welcome to jingge Electronics
你现在的位置:首页>>产品中心>>金属质量电阻率测试仪金属质量电阻率测试仪
ST2258H金属(箔)质量电阻率平行四刀法测试仪-带PC测试软件
ST2258H金属(箔)质量电阻率平行四刀法测试仪-带PC测试软件
产品类别: 金属质量电阻率测试仪
上架时间: 2022/10/25 13:45:41
浏览次数: 1898
产品详细

结构特征






二、概述

 

基本功能: ST2258H金属质量电阻率测试仪是运用平行四刀法(四端子法)原理专业测量金属箔类样品的(质量)电阻率/方阻的多用途综合测量装置

 

基本组成:测试仪器由ST2258H质量电阻率测试仪(主机)+SZT-H1测试台(平行四刀电极)+ST2258H质量电阻率测试PC软件等单元组成。

 

依据标准:GBT 5230-1995 电解铜箔 附录C 电性能检验方法-质量电阻率测试方法》,参照《GBT 3048.2-94电线电缆电性能试验方法-金属导体材料电阻率试验》

 

优势特征本测试系统有配套PC软件,参数设置、数据测试等操作简便明了,数据测试、采集、编辑、保存、打印、历史查询等功能齐全

本系统既可以联机PC软件操作,也可单独仪器脱机操作,功能简便齐全。

 

应用范围本仪器适用于金属箔材、薄膜材料厂、电容器厂、科研单位、高等院校等对金属箔材的质量电阻率/电阻率/方阻性能的测试。同样适用于采用平行四刀法进行薄膜、薄层类导体、半导体材料的电阻率、方阻测试。

 

三、基本技术参数

3.1 系统测量范围、分辨率      


1)电阻率/质量电阻率测试范围

(厚度d<2mm,宽w<50mm)

基本电阻率测量值: 1.0×10-65.00×105Ω*cm,

分辨率:1.0×10-71.0×10Ω*cm。

具体截面s与测量范围关系见图2-1A。

 

2)方阻测试范围

测量膜宽:1mm≤w≤50mm

基本方阻测量值: 5.0×10-6  2.000×106 Ω/□,

分辨率:1.0×10-4  1.0×10 Ω/□。

具体膜宽w与测量范围关系见图2-1B

3.2 SZT-H1测试台参数

⑴电压刀片间距:20mm±0.2% ,刀长60mm

⑵电流刀片间距: 70mm,刀长60mm

⑶外 型  尺 寸: 220×180×250(长×宽×高)

3.3 ST2258H测试仪参数

⑴电源电压:U=220V/110V±5%可选,f=50/60Hz。

     ≦30W

⑶外型尺寸:220mm×245mm×105mm(长×宽×高)


填写咨询内容:
  • 订购产品: *
  • 姓 名: *
  • 电 话: *
  • 邮 箱: *
  • 备注信息:
  • 验证码:
  •       
版权所有 苏州晶格电子有限公司/ 技术支持:仕德伟科技 / 苏ICP备10203210号
收缩